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  • 用投影立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)屬于什么測量方法,絕對測量和相對測量各有何特點(diǎn)

    用投影立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)屬于什么測量方法,絕對測量和相對測量各有何特點(diǎn)
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    優(yōu)質(zhì)解答
    相對測量是指激發(fā)場源是定源的條件下,測最沿側(cè)線相鄰兩點(diǎn)的振幅比和相位差的方法.其特點(diǎn)是曲線的變化與振幅和相位沿側(cè)線的梯度變化成正比,曲線較復(fù)雜.具有工作效率快的優(yōu)點(diǎn) 適用與普查.絕對測量法]absolute measurin...
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