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  • 磁聚焦法測(cè)電子荷質(zhì)比誤差原因

    磁聚焦法測(cè)電子荷質(zhì)比誤差原因
    其他人氣:515 ℃時(shí)間:2019-09-09 18:26:29
    優(yōu)質(zhì)解答
    任何試驗(yàn)誤差產(chǎn)生的原因都可分為:系統(tǒng)誤差和試驗(yàn)誤差;
    系統(tǒng)誤差是由試驗(yàn)的儀器和試驗(yàn)的方法以及試驗(yàn)的環(huán)境條件所產(chǎn)生的;
    試驗(yàn)誤差是試驗(yàn)的人的具體操作,和計(jì)算方法產(chǎn)生的.
    磁聚焦法測(cè)電子荷質(zhì)比的試驗(yàn)系統(tǒng)誤差因素包括電源精確度,陰極管的質(zhì)量和波長(zhǎng)的精確度等一系列試驗(yàn)儀器帶來(lái)的誤差.
    實(shí)驗(yàn)誤差為螺線管磁場(chǎng)的測(cè)量方向和準(zhǔn)確度,對(duì)電子束的偏轉(zhuǎn)和聚焦的控制等.
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