邁克爾遜干涉儀,是1883年美國(guó)物理學(xué)家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設(shè)計(jì)制造出來(lái)的精密光學(xué)儀器.它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉.通過(guò)調(diào)整該干涉儀,可以產(chǎn)生等厚干涉條紋,也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋.主要用于長(zhǎng)度和折射率的測(cè)量,若觀察到干涉條紋移動(dòng)一條,便是M2的動(dòng)臂移動(dòng)量為λ/2,等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變?chǔ)?2.在近代物理和近代計(jì)量技術(shù)中,如在光譜線精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究和用光波標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)米尺等實(shí)驗(yàn)中都有著重要的應(yīng)用.利用該儀器的原理,研制出多種專(zhuān)用干涉儀.※特別強(qiáng)調(diào)：干涉條紋是等光程差點(diǎn)的軌跡,因此,要分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣,必求出相干光的光程差位置分布的函數(shù).若干涉條一架光學(xué)臺(tái)上的邁克耳孫干涉儀紋發(fā)生移動(dòng),一定是場(chǎng)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光程差發(fā)生了變化,引起光程差變化的原因,可能是光線長(zhǎng)度L發(fā)生變化,或是光路中某段介質(zhì)的折射率n發(fā)生了變化,或是薄膜的厚度e發(fā)生了變化.