若在同一坐標(biāo)中用內(nèi)外接法及補(bǔ)償法做U—I曲線，其分布規(guī)律如何？有何相對關(guān)系？

為了提高測量精度，選擇內(nèi)、外接法的原則是什么？

為什么說伏安法測電阻的兩種方法都不嚴(yán)格滿足歐姆定律？

由實(shí)驗(yàn)知，用補(bǔ)償法測電阻為誤差最小，所以其V-I曲線最接近真實(shí)V-I曲線，而電流表內(nèi)接往往使求得電阻偏大，所以其V-I曲線斜率較大，略偏補(bǔ)償法曲線上端，電流表外接其測量值往往小于真實(shí)值，所以其V-I曲線斜率較小，略偏補(bǔ)償法曲線下端。

依據(jù)所測電阻大概大小來做選擇,
如果電阻值較小,與電流表的內(nèi)阻相差不大,就選電流表外測法,
如果電阻值較大,與電壓表的內(nèi)阻相差不大,就選電流表內(nèi)測法,

因?yàn)殡妷罕砗碗娏鞅矶疾皇抢硐氲摹?br />電流表自身有內(nèi)阻，給電路中帶來了新的阻值，不能視為短路。
電壓表阻值不是無窮大，不能視為斷路。
這兩種方法不是不嚴(yán)格滿足歐姆定律，是不能嚴(yán)格驗(yàn)證歐姆定律，因?yàn)榇嬖谡`差。