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  • 物理測量儀器刻度平均問題

    物理測量儀器刻度平均問題
    在制作物理測量儀器時,往往考慮刻度的平均問題.比如說s=vt屬于一次函數(shù)中的正比例函數(shù),制作的測量儀器刻度從理論上講是均勻的,因為它是一次函數(shù);再如L=m/p(m是常數(shù),m>0;L,p是變量p>0)則L是p的反比例函數(shù)制作的測量儀器刻度從理論上講是不均勻的.誰能把這個理論說明白些,為什么有這個理論?
    總之意思就是說為什么一次函數(shù)是均勻的,反比例函數(shù)是不均勻的?
    物理人氣:962 ℃時間:2020-02-03 12:29:59
    優(yōu)質(zhì)解答
    這種說法有些奇怪.
    首先說測長度s . 有一點基礎(chǔ)是,在人們的時間觀中,時間是平均的,這是一切測量的基礎(chǔ).
    你知道國際的標準長度單位是如何定義的嗎?
    是激光在某某介質(zhì)中走某某秒所走過的長度.
    這是因為光的速度恒定,s與t成正比,所以我們用t來作為s的標準
    對于任意 y=kx
    我們?nèi)?任意的 x1 、x2 、x3 成等差數(shù)列.
    他們所對應(yīng)的y1 、y2、 y3也成等差數(shù)列.
    這是不難證明的.
    這就是所謂的均勻.
    而對于任意y=x/k
    取 任意的 x1 、x2 、x3 成等差數(shù)列.
    他們所對應(yīng)的y1 、y2、 y3不能保證他們成等差數(shù)列.
    所以y 對于x就是不均勻的.
    這個靠理解..
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