精品偷拍一区二区三区,亚洲精品永久 码,亚洲综合日韩精品欧美国产,亚洲国产日韩a在线亚洲

  • <center id="usuqs"></center>
  • 
    
  • 在測量半導(dǎo)體材料電阻率時(shí),為什么要求待測面平整、粗糙

    在測量半導(dǎo)體材料電阻率時(shí),為什么要求待測面平整、粗糙
    物理人氣:345 ℃時(shí)間:2019-08-22 15:31:06
    優(yōu)質(zhì)解答
    在采用四探針法測量電阻率時(shí),金屬探針不能與半導(dǎo)體形成整流接觸,故打毛表面以破壞肖特基勢(shì)壘的作用.
    只有表面平整,才能較好地滿足四探針技術(shù)的要求,以使測量準(zhǔn)確.
    我來回答
    類似推薦
    請(qǐng)使用1024x768 IE6.0或更高版本瀏覽器瀏覽本站點(diǎn),以保證最佳閱讀效果。本頁提供作業(yè)小助手,一起搜作業(yè)以及作業(yè)好幫手最新版!
    版權(quán)所有 CopyRight © 2012-2024 作業(yè)小助手 All Rights Reserved. 手機(jī)版