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質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖
質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(速度可看作為零),經(jīng)加速電場加速后垂直進(jìn)入有界勻強磁場,到達(dá)記錄它的照相底片P上,設(shè)離子在P上的位置到入口處S1的距離為x.第一問求該離子的比荷q比m多大?第二問若離子源產(chǎn)生的是帶電荷量為q質(zhì)量為m1和m2的同位素離子（m1大于m2）他們分別到達(dá)照相底片上p1,p2位置（圖中未畫出）求p1p2間的距離的他x
質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖
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物理人氣：215 ℃時間：2020-05-14 05:21:23
優(yōu)質(zhì)解答
沒有圖,我按照我自己理解,是不是粒子進(jìn)入磁場后走了一個半圓然后打在底片上,如果這樣,則第一問實際上就是利用2R=X,然后利用半徑公式以及加速電場等條件代入,就可以求出比荷.第二問類似,比荷不同,半徑不同.
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