減少誤差的措施：
原理上,采用通過(guò)測(cè)量條紋直徑求的半徑的方法減少圓心確定帶來(lái)的誤差；選定第4級(jí)到第12級(jí)間的條紋進(jìn)行測(cè)量,避免級(jí)別小的條紋因擠壓變形和級(jí)別大的條紋不明顯不宜測(cè)量而帶來(lái)的誤差；數(shù)據(jù)處理時(shí)采用逐差法,提高數(shù)據(jù)利用率.實(shí)驗(yàn)中,測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí),手輪要朝一個(gè)方向旋轉(zhuǎn),減小齒輪間隙造成的機(jī)械誤差.
從牛頓環(huán)裝置下方投射上來(lái)的光也可以形成干涉條紋,它與反射光形成的條紋不同之處在上方投射的光形成的中心條紋是暗紋,下方形成的是亮紋,這是因?yàn)橛缮戏酵渡涞墓庠诳諝獗∧は卤砻娣瓷鋾r(shí)是在光密介質(zhì)反射,會(huì)有半波損失,下方投射來(lái)的光則沒(méi)有.