利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖（a）所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖（b）所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖（a）所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖（b）所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對(duì)應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是（　　）

A. N的上表面A處向上凸起
B. N的上表面B處向上凸起
C. 條紋的cd點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同
D. 條紋的d、e點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同

物理人氣：924 ℃時(shí)間：2020-04-14 19:54:41

優(yōu)質(zhì)解答

薄膜干涉是等厚干涉，即明條紋處空氣膜的厚度相同．條紋的cd點(diǎn)在直條紋處，故cd點(diǎn)對(duì)應(yīng)處的薄膜厚度相同，
從彎曲的條紋可知，A處檢查平面左邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同，知A處凹陷，
B處檢查平面右邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同，知B處凸起，
故選：BC．

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