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  • 關(guān)于薄膜干涉的應(yīng)用

    關(guān)于薄膜干涉的應(yīng)用
    用干涉法檢查平面是否平整,為什么如果被檢測平面是光滑的,得到的干涉圖樣是等間距的,為什么凹下 明紋提前 ,凸起明紋延后
    那個(gè)干涉圖樣是在哪個(gè)平面內(nèi) 形成的
    物理人氣:150 ℃時(shí)間:2020-02-04 10:44:58
    優(yōu)質(zhì)解答
    每一條條紋實(shí)際上都是高度差的等高線啦(等高線對(duì)應(yīng)的光程差相等).所以平整時(shí)是等距的,關(guān)于條紋隨表面凹下突起的變化,就按地理上分析等高線的方法就行了.
    凹下時(shí),凹下處厚度變大,所以條紋向薄的一側(cè)突出,反之亦然(我是不明白你的提前落后啦).
    條紋產(chǎn)生在劈尖附近一個(gè)區(qū)域中,不僅是一個(gè)面上(去查查定域中心層)
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