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  • 利用光的干涉檢測(cè)平整度的原理?平面的條紋間距為什么相同,空氣膜的厚度并不一樣?凸面的條紋為什么向左凸而不是右?

    利用光的干涉檢測(cè)平整度的原理?平面的條紋間距為什么相同,空氣膜的厚度并不一樣?凸面的條紋為什么向左凸而不是右?
    用兩塊玻璃板觀察干涉時(shí)用手壓條紋為什么會(huì)移動(dòng)
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    凸面的條紋為什么向左凸而不是右?
    物理人氣:486 ℃時(shí)間:2020-03-30 06:03:56
    優(yōu)質(zhì)解答
    檢測(cè)平整度用的是空氣劈尖干涉原理,當(dāng)光垂直入射時(shí),在工件的上表面和玻璃板的下表面反射的光相干涉,當(dāng)光波的光程差為波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),形成明條紋,為半波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí),形成暗條紋.而光程差取決于空氣層的厚度,空氣層厚...
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